Eine elementare Darstellung statistischer Schätz- und Testverfahren einschließlich der zugrundeliegenden Modellbildung für Mathematiker, Informatiker, Wirtschaftswissenschaftler, Naturwissenschaftler und Ingenieure
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Table des matières
Methoden der Beschreibenden Statistik – Wahrscheinlichkeitsräume – Zufallsvariablen und Verteilungsfunktionen – Gesetze der großen Zahlen und Grenzwertsätze – Zentralsatz der Statistik – Schätzverfahren und ihre Eigenschaften – Maximum-Likelihood-Methode – Konfidenzintervalle – Tests bei Normalverteilungsannahmen – Verteilungsunabhängige Tests – Einfache Varianzanalyse – Schätzen und Testen bei der linearen Regression
A propos de l’auteur
Prof. Dr. Jürgen Lehn, TU Darmstadt
Prof. Dr. Helmut Wegmann, TU Darmstadt
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Langue Allemand ● Format PDF ● Pages 208 ● ISBN 9783835190337 ● Maison d’édition Vieweg & Teubner ● Lieu Wiesbaden ● Pays DE ● Publié 2008 ● Édition 5 ● Téléchargeable 24 mois ● Devise EUR ● ID 4459320 ● Protection contre la copie Adobe DRM
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