Eine elementare Darstellung statistischer Schätz- und Testverfahren einschließlich der zugrundeliegenden Modellbildung für Mathematiker, Informatiker, Wirtschaftswissenschaftler, Naturwissenschaftler und Ingenieure
Inhoudsopgave
Methoden der Beschreibenden Statistik – Wahrscheinlichkeitsräume – Zufallsvariablen und Verteilungsfunktionen – Gesetze der großen Zahlen und Grenzwertsätze – Zentralsatz der Statistik – Schätzverfahren und ihre Eigenschaften – Maximum-Likelihood-Methode – Konfidenzintervalle – Tests bei Normalverteilungsannahmen – Verteilungsunabhängige Tests – Einfache Varianzanalyse – Schätzen und Testen bei der linearen Regression
Over de auteur
Prof. Dr. Jürgen Lehn, TU Darmstadt
Prof. Dr. Helmut Wegmann, TU Darmstadt
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Taal Duits ● Formaat PDF ● Pagina’s 208 ● ISBN 9783835190337 ● Uitgeverij Vieweg & Teubner ● Stad Wiesbaden ● Land DE ● Gepubliceerd 2008 ● Editie 5 ● Downloadbare 24 maanden ● Valuta EUR ● ID 4459320 ● Kopieerbeveiliging Adobe DRM
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