Eine elementare Darstellung statistischer Schätz- und Testverfahren einschließlich der zugrundeliegenden Modellbildung für Mathematiker, Informatiker, Wirtschaftswissenschaftler, Naturwissenschaftler und Ingenieure
สารบัญ
Methoden der Beschreibenden Statistik – Wahrscheinlichkeitsräume – Zufallsvariablen und Verteilungsfunktionen – Gesetze der großen Zahlen und Grenzwertsätze – Zentralsatz der Statistik – Schätzverfahren und ihre Eigenschaften – Maximum-Likelihood-Methode – Konfidenzintervalle – Tests bei Normalverteilungsannahmen – Verteilungsunabhängige Tests – Einfache Varianzanalyse – Schätzen und Testen bei der linearen Regression
เกี่ยวกับผู้แต่ง
Prof. Dr. Jürgen Lehn, TU Darmstadt
Prof. Dr. Helmut Wegmann, TU Darmstadt
ซื้อ eBook เล่มนี้และรับฟรีอีก 1 เล่ม!
ภาษา เยอรมัน ● รูป PDF ● หน้า 208 ● ISBN 9783835190337 ● สำนักพิมพ์ Vieweg & Teubner ● เมือง Wiesbaden ● ประเทศ DE ● การตีพิมพ์ 2008 ● ฉบับ 5 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 24 เดือน ● เงินตรา EUR ● ID 4459320 ● ป้องกันการคัดลอก Adobe DRM
ต้องใช้เครื่องอ่านหนังสืออิเล็กทรอนิกส์ที่มีความสามารถ DRM