Eric Garfunkel & Evgeni Gusev 
Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices [PDF ebook] 

الدعم

An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.

€166.48
طرق الدفع
قم بشراء هذا الكتاب الإلكتروني واحصل على كتاب آخر مجانًا!
لغة الإنجليزية ● شكل PDF ● ISBN 9789401150088 ● محرر Eric Garfunkel & Evgeni Gusev ● الناشر Springer Netherlands ● نشرت 2012 ● للتحميل 3 مرات ● دقة EUR ● هوية شخصية 4705911 ● حماية النسخ Adobe DRM
يتطلب قارئ الكتاب الاليكتروني قادرة DRM

المزيد من الكتب الإلكترونية من نفس المؤلف (المؤلفين) / محرر

19٬094 كتب إلكترونية في هذه الفئة