Eric Garfunkel & Evgeni Gusev 
Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices [PDF ebook] 

Ondersteuning

An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.

€166.48
Betalingsmethoden
Koop dit e-boek en ontvang er nog 1 GRATIS!
Taal Engels ● Formaat PDF ● ISBN 9789401150088 ● Editor Eric Garfunkel & Evgeni Gusev ● Uitgeverij Springer Netherlands ● Gepubliceerd 2012 ● Downloadbare 3 keer ● Valuta EUR ● ID 4705911 ● Kopieerbeveiliging Adobe DRM
Vereist een DRM-compatibele e-boeklezer

Meer e-boeken van dezelfde auteur (s) / Editor

18.802 E-boeken in deze categorie