Eric Garfunkel & Evgeni Gusev 
Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices [PDF ebook] 

Підтримка

An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.

€166.48
методи оплати
Придбайте цю електронну книгу та отримайте ще 1 БЕЗКОШТОВНО!
Мова Англійська ● Формат PDF ● ISBN 9789401150088 ● Редактор Eric Garfunkel & Evgeni Gusev ● Видавець Springer Netherlands ● Опубліковано 2012 ● Завантажувані 3 разів ● Валюта EUR ● Посвідчення особи 4705911 ● Захист від копіювання Adobe DRM
Потрібен читач електронних книг, що підтримує DRM

Більше електронних книг того самого автора / Редактор

18 901 Електронні книги в цій категорі