An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.
Придбайте цю електронну книгу та отримайте ще 1 БЕЗКОШТОВНО!
Мова Англійська ● Формат PDF ● ISBN 9789401150088 ● Редактор Eric Garfunkel & Evgeni Gusev ● Видавець Springer Netherlands ● Опубліковано 2012 ● Завантажувані 3 разів ● Валюта EUR ● Посвідчення особи 4705911 ● Захист від копіювання Adobe DRM
Потрібен читач електронних книг, що підтримує DRM