Eric Garfunkel & Evgeni Gusev 
Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices [PDF ebook] 

สนับสนุน

An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.

€166.48
วิธีการชำระเงิน
ซื้อ eBook เล่มนี้และรับฟรีอีก 1 เล่ม!
ภาษา อังกฤษ ● รูป PDF ● ISBN 9789401150088 ● บรรณาธิการ Eric Garfunkel & Evgeni Gusev ● สำนักพิมพ์ Springer Netherlands ● การตีพิมพ์ 2012 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 3 ครั้ง ● เงินตรา EUR ● ID 4705911 ● ป้องกันการคัดลอก Adobe DRM
ต้องใช้เครื่องอ่านหนังสืออิเล็กทรอนิกส์ที่มีความสามารถ DRM

หนังสืออิเล็กทรอนิกส์เพิ่มเติมจากผู้แต่งคนเดียวกัน / บรรณาธิการ

19,094 หนังสืออิเล็กทรอนิกส์ในหมวดหมู่นี้