Eric Garfunkel & Evgeni Gusev 
Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices [PDF ebook] 

Ủng hộ

An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.

€166.48
phương thức thanh toán
Mua cuốn sách điện tử này và nhận thêm 1 cuốn MIỄN PHÍ!
Ngôn ngữ Anh ● định dạng PDF ● ISBN 9789401150088 ● Biên tập viên Eric Garfunkel & Evgeni Gusev ● Nhà xuất bản Springer Netherlands ● Được phát hành 2012 ● Có thể tải xuống 3 lần ● Tiền tệ EUR ● TÔI 4705911 ● Sao chép bảo vệ Adobe DRM
Yêu cầu trình đọc ebook có khả năng DRM

Thêm sách điện tử từ cùng một tác giả / Biên tập viên

18.786 Ebooks trong thể loại này