An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.
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भाषा अंग्रेज़ी ● स्वरूप PDF ● ISBN 9789401150088 ● संपादक Eric Garfunkel & Evgeni Gusev ● प्रकाशक Springer Netherlands ● प्रकाशित 2012 ● डाउनलोड करने योग्य 3 बार ● मुद्रा EUR ● आईडी 4705911 ● कॉपी सुरक्षा Adobe DRM
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