An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.
Купите эту электронную книгу и получите еще одну БЕСПЛАТНО!
язык английский ● Формат PDF ● ISBN 9789401150088 ● редактор Eric Garfunkel & Evgeni Gusev ● издатель Springer Netherlands ● опубликованный 2012 ● Загружаемые 3 раз ● валюта EUR ● Код товара 4705911 ● Защита от копирования Adobe DRM
Требуется устройство для чтения электронных книг с поддержкой DRM