قائمة المحتويات
Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
قم بشراء هذا الكتاب الإلكتروني واحصل على كتاب آخر مجانًا!
لغة الإنجليزية ● شكل PDF ● صفحات 236 ● ISBN 9783540850373 ● حجم الملف 15.7 MB ● محرر Bharat Bhushan & Harald Fuchs ● الناشر Springer Berlin ● مدينة Heidelberg ● بلد DE ● نشرت 2008 ● للتحميل 24 الشهور ● دقة EUR ● هوية شخصية 5238393 ● حماية النسخ DRM الاجتماعية