Table des matières
Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
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Langue Anglais ● Format PDF ● Pages 236 ● ISBN 9783540850373 ● Taille du fichier 15.7 MB ● Éditeur Bharat Bhushan & Harald Fuchs ● Maison d’édition Springer Berlin ● Lieu Heidelberg ● Pays DE ● Publié 2008 ● Téléchargeable 24 mois ● Devise EUR ● ID 5238393 ● Protection contre la copie DRM sociale