Bharat Bhushan & Harald Fuchs 
Applied Scanning Probe Methods XI [PDF ebook] 
Scanning Probe Microscopy Techniques

Support
€106.99
méthodes de payement

Table des matières

Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.

Achetez cet ebook et obtenez-en 1 de plus GRATUITEMENT !
Langue Anglais ● Format PDF ● Pages 236 ● ISBN 9783540850373 ● Taille du fichier 15.7 MB ● Éditeur Bharat Bhushan & Harald Fuchs ● Maison d’édition Springer Berlin ● Lieu Heidelberg ● Pays DE ● Publié 2008 ● Téléchargeable 24 mois ● Devise EUR ● ID 5238393 ● Protection contre la copie DRM sociale

Plus d’ebooks du même auteur(s) / Éditeur

5 269 Ebooks dans cette catégorie