Bharat Bhushan & Harald Fuchs 
Applied Scanning Probe Methods XI [PDF ebook] 
Scanning Probe Microscopy Techniques

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Tabla de materias

Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.

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Idioma Inglés ● Formato PDF ● Páginas 236 ● ISBN 9783540850373 ● Tamaño de archivo 15.7 MB ● Editor Bharat Bhushan & Harald Fuchs ● Editorial Springer Berlin ● Ciudad Heidelberg ● País DE ● Publicado 2008 ● Descargable 24 meses ● Divisa EUR ● ID 5238393 ● Protección de copia DRM social

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