Cuprins
Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
Cumpărați această carte electronică și primiți încă 1 GRATUIT!
Limba Engleză ● Format PDF ● Pagini 236 ● ISBN 9783540850373 ● Mărime fișier 15.7 MB ● Editor Bharat Bhushan & Harald Fuchs ● Editura Springer Berlin ● Oraș Heidelberg ● Țară DE ● Publicat 2008 ● Descărcabil 24 luni ● Valută EUR ● ID 5238393 ● Protecție împotriva copiilor DRM social