Bharat Bhushan & Harald Fuchs 
Applied Scanning Probe Methods XI [PDF ebook] 
Scanning Probe Microscopy Techniques

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Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.

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语言 英语 ● 格式 PDF ● 网页 236 ● ISBN 9783540850373 ● 文件大小 15.7 MB ● 编辑 Bharat Bhushan & Harald Fuchs ● 出版者 Springer Berlin ● 市 Heidelberg ● 国家 DE ● 发布时间 2008 ● 下载 24 个月 ● 货币 EUR ● ID 5238393 ● 复制保护 社会DRM

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