Bharat Bhushan & Harald Fuchs 
Applied Scanning Probe Methods XI [PDF ebook] 
Scanning Probe Microscopy Techniques

Wsparcie
€106.99
Metody Płatności

Spis treści

Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.

Kup ten ebook, a 1 kolejny otrzymasz GRATIS!
Język Angielski ● Format PDF ● Strony 236 ● ISBN 9783540850373 ● Rozmiar pliku 15.7 MB ● Redaktor Bharat Bhushan & Harald Fuchs ● Wydawca Springer Berlin ● Miasto Heidelberg ● Kraj DE ● Opublikowany 2008 ● Do pobrania 24 miesięcy ● Waluta EUR ● ID 5238393 ● Ochrona przed kopiowaniem Społeczny DRM

Więcej książek elektronicznych tego samego autora (ów) / Redaktor

5 269 Ebooki w tej kategorii