Зміст
Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
Придбайте цю електронну книгу та отримайте ще 1 БЕЗКОШТОВНО!
Мова Англійська ● Формат PDF ● Сторінки 236 ● ISBN 9783540850373 ● Розмір файлу 15.7 MB ● Редактор Bharat Bhushan & Harald Fuchs ● Видавець Springer Berlin ● Місто Heidelberg ● Країна DE ● Опубліковано 2008 ● Завантажувані 24 місяців ● Валюта EUR ● Посвідчення особи 5238393 ● Захист від копіювання Соціальний DRM