Bharat Bhushan & Harald Fuchs 
Applied Scanning Probe Methods XI [PDF ebook] 
Scanning Probe Microscopy Techniques

Destek
€106.99
Ödeme metodları

İçerik tablosu

Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.

Bu e-kitabı satın alın ve 1 tane daha ÜCRETSİZ kazanın!
Dil İngilizce ● Biçim PDF ● Sayfalar 236 ● ISBN 9783540850373 ● Dosya boyutu 15.7 MB ● Editör Bharat Bhushan & Harald Fuchs ● Yayımcı Springer Berlin ● Kent Heidelberg ● Ülke DE ● Yayınlanan 2008 ● İndirilebilir 24 aylar ● Döviz EUR ● Kimlik 5238393 ● Kopya koruma Sosyal DRM

Aynı yazardan daha fazla e-kitap / Editör

5.127 Bu kategorideki e-kitaplar