Mục lục
Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
Mua cuốn sách điện tử này và nhận thêm 1 cuốn MIỄN PHÍ!
Ngôn ngữ Anh ● định dạng PDF ● Trang 236 ● ISBN 9783540850373 ● Kích thước tập tin 15.7 MB ● Biên tập viên Bharat Bhushan & Harald Fuchs ● Nhà xuất bản Springer Berlin ● Thành phố Heidelberg ● Quốc gia DE ● Được phát hành 2008 ● Có thể tải xuống 24 tháng ● Tiền tệ EUR ● TÔI 5238393 ● Sao chép bảo vệ DRM xã hội