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विषयसूची
Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
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भाषा अंग्रेज़ी ● स्वरूप PDF ● पेज 236 ● ISBN 9783540850373 ● फाइल का आकार 15.7 MB ● संपादक Bharat Bhushan & Harald Fuchs ● प्रकाशक Springer Berlin ● शहर Heidelberg ● देश DE ● प्रकाशित 2008 ● डाउनलोड करने योग्य 24 महीने ● मुद्रा EUR ● आईडी 5238393 ● कॉपी सुरक्षा सामाजिक DRM
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