Bharat Bhushan & Harald Fuchs 
Applied Scanning Probe Methods XI [PDF ebook] 
Scanning Probe Microscopy Techniques

สนับสนุน
€106.99
วิธีการชำระเงิน

สารบัญ

Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.

ซื้อ eBook เล่มนี้และรับฟรีอีก 1 เล่ม!
ภาษา อังกฤษ ● รูป PDF ● หน้า 236 ● ISBN 9783540850373 ● ขนาดไฟล์ 15.7 MB ● บรรณาธิการ Bharat Bhushan & Harald Fuchs ● สำนักพิมพ์ Springer Berlin ● เมือง Heidelberg ● ประเทศ DE ● การตีพิมพ์ 2008 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 24 เดือน ● เงินตรา EUR ● ID 5238393 ● ป้องกันการคัดลอก โซเชียล DRM

หนังสืออิเล็กทรอนิกส์เพิ่มเติมจากผู้แต่งคนเดียวกัน / บรรณาธิการ

5,269 หนังสืออิเล็กทรอนิกส์ในหมวดหมู่นี้