Bharat Bhushan & Harald Fuchs 
Applied Scanning Probe Methods XI [PDF ebook] 
Scanning Probe Microscopy Techniques

поддержка
€106.99
Способы оплаты

Содержание

Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.

Купите эту электронную книгу и получите еще одну БЕСПЛАТНО!
язык английский ● Формат PDF ● страницы 236 ● ISBN 9783540850373 ● Размер файла 15.7 MB ● редактор Bharat Bhushan & Harald Fuchs ● издатель Springer Berlin ● город Heidelberg ● Страна DE ● опубликованный 2008 ● Загружаемые 24 месяцы ● валюта EUR ● Код товара 5238393 ● Защита от копирования Социальный DRM

Больше книг от того же автора (ов) / редактор

5 276 Электронные книги в этой категории